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藻垣 和彦; 薄井 勝富; 大島 克己*
KEK Proceedings 99-17 (CD-ROM), 4 Pages, 1999/00
平成10年9月に、JT-60NBI用大型負イオン源で水リークが発生した。原因は、イオン源内部のフィラメントカソード用電流導入端子セラミック部が、イオン源加速部でのブレークダウン時のサージ電圧による放電によって破損し、内部の冷却水配管が剥き出しになった。そこへアーク放電での異常放電(アーキング)が発生し異常電流が流れた。通常この異常電流はスイッチ機器により高速遮断されるが、本フィラメント系統スイッチ機器は故障により短絡状態になっていた。このため異常電流を遮断することができず、熱により冷却水配管が溶融して水リークが発生したことが判明した。この対策としては、(1)制御ロジックの改造を行い、アーキング検出器は、通常の電力遮断回路(GTO)スイッチ)の他にサイリスタSWの遮断も行うようにして保護動作を強化した。(2)フィラメント系統のサージ吸収耐性を上げるために電位固定を強化した、等を実施した。
恒岡 まさき; 藤田 秀男*; 今井 剛; 浅香 敏夫*; 本郷 礼二*; 上岡 伸好*; 安田 昌弘*; 飯山 俊光*
電気学会論文誌,D, 116(4), p.497 - 498, 1996/04
本報告はエネルギー回収ジャイロトロンに用いる計画のIGBTスイッチの開発結果の速報である。直流100kV、100A、遮断電流360Aの定格の高速投入・遮断可能な半導体スイッチである。本報告では耐電圧試験、連続通電試験、短絡開閉試験の結果を報告を行った。耐電圧試験は直流130kV、10分間対地に対して印加した。連続通電試験では定格100Aを通電し、飽和温度を測定し保存温度限界125
Cに対して405Cと余裕のある結果となった。短絡開閉試験では短絡した試験回路において開閉試験を行った。その結果、投入時間10
s、遮断時間5sの高速性能を確認し、エネルギー回収ジャイロトロンの異常時の許容エネルギー10J以下を十分満足できる見通しを得た。さらに本スイッチは、単にエネルギー回収ジャイロトロンのみならず他の大容量加速器用クライストロン電源などの大型プラント用電源にも応用できる見通しが得られた。
恒岡 まさき; 藤田 秀男*; 永島 孝
JAERI-M 92-045, 94 Pages, 1992/03
本報告書はJT-60クライストロン出力試験装置を電子サイクロトロン共鳴加熱帯(100GHz帯)のジャイロトロンをも出力可能となる高周波工学試験装置へと改造した設計報告についてまとめたものである。ジャイロトロン出力試験装置としての基本性能は、出力電圧-50~-90kV、出力電流は30A(短パルスモードでは40A)の運転が可能で、パルス幅は最大10sである。その出力電圧の安定度は
0.2%以下であり、電流の立上げは200s以下の高速立上げを可能とするものである。さらに本論では、序論、設計方針、各部仕様、まとめ、謝辞について述べ、設計方針では主結線機器配置から法律上問題となる点について触れ、さらに各部仕様ではジャイロトロン出力試験装置として新たに配備した主要機器について述べた。
